High precision chemical mechanical polishing of highly-boron-doped Si wafer used for epitaxial substrate
- J. Watanabe
- , G. Yu
- , O. Eryu
- , I. Koshiyama
- , K. Izumi
- , K. Nakashima
- , M. Umeno
- , T. Jimbo
- , K. Kodama
研究成果: ジャーナルへの寄稿 › 学術論文 › 査読
9
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(Scopus)